ANSI/IEEE 1149.7:2009
Estándar para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba con funcionalidad mejorada y clavija reducida

Estándar No.

ANSI/IEEE 1149.7:2009

Fecha de publicación

2009

Organización

American National Standards Institute （ANSI)

Ultima versión

ANSI/IEEE 1149.7:2009

Alcance

Este estándar describe los circuitos que se pueden agregar a un circuito integrado para proporcionar acceso a los puertos de acceso de prueba (TAP) en el chip especificados por ANSI/IEEE Std 1149.1TM-2001. El circuito utiliza ANSI/IEEE 1149.1-2001 como base, proporcionando completa compatibilidad con versiones anteriores, al tiempo que agrega funciones para admitir pruebas y depuración de aplicaciones.

ANSI/IEEE 1149.7:2009 Historia

• 2009 ANSI/IEEE 1149.7:2009 Estándar para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba con funcionalidad mejorada y clavija reducida