GB/T 4298-1984 El método de análisis de activación para la determinación de impurezas elementales en materiales semiconductores de silicio. (Versión en inglés)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Estado
2017-12
Ultima versión
GB/T 4298-1984
Alcance
Esta norma se aplica a la determinación del contenido de elementos de impurezas metálicas y elementos de impurezas no metálicas en silicio monocristalino y silicio policristalino.
GB/T 4298-1984 Historia
1984GB/T 4298-1984 El método de análisis de activación para la determinación de impurezas elementales en materiales semiconductores de silicio.