DIN EN 61988-5:2010
Paneles de visualización de plasma - Parte 5: Especificación genérica (IEC 61988-5:2009); Versión alemana EN 61988-5:2009

Estándar No.

DIN EN 61988-5:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Remplazado por

DIN EN 61988-5:2010-05

Ultima versión

DIN EN 61988-5:2010-05

Reemplazar

DIN IEC 61988-5:2006

Alcance

Esta Norma para paneles de visualización de plasma especifica procedimientos generales para la evaluación de la calidad que se utilizarán en el sistema IECQ-CECC y establece principios generales para describir y probar características eléctricas, ópticas, mecánicas y ambientales.

DIN EN 61988-5:2010 Documento de referencia

• IEC 60027 Símbolos de letras que se utilizarán en tecnología eléctrica (Edición 4.0)
• IEC 60050 Enmienda 3 - Vocabulario Electrotécnico Internacional (IEV) - Parte 904: Estandarización ambiental para productos y sistemas eléctricos y electrónicos*， 2019-10-17 Actualizar
• IEC 60617 Símbolos gráficos para diagramas: suscripción de 12 meses a una base de datos en línea actualizada periódicamente que comprende las partes 2 a 13 de IEC 60617*， 2012-05-31 Actualizar
• IEC 60747-1 *， 2010-08-01 Actualizar
• IEC 61988-1 Paneles de visualización de plasma - Parte 1: Terminología y símbolos de letras*， 2011-07-01 Actualizar
• IEC 61988-2-1 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-1: Métodos de medición - Ópticos y optoeléctricos*， 2012-01-01 Actualizar
• IEC 61988-2-2 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-2: Métodos de medición; Optoeléctrico
• IEC 61988-3-1 Paneles de visualización de plasma - Parte 3-1: Interfaz mecánica
• IEC 61988-4 Paneles de visualización de plasma - Parte 4: Métodos de prueba climáticos y mecánicos
• IECQ 01 
• ISO 1000:1992 Unidades SI y recomendaciones para el uso de sus múltiplos y de otras unidades determinadas
• ISO 2859-1 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Parte 1: Esquemas de muestreo indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote; Corrigendum técnico 1
• ISO 3534-2 Estadística - Vocabulario y símbolos - Parte 2: Estadística aplicada
• QC 001002 Sistema de evaluación de calidad IEC para componentes electrónicos (Esquema IECQ) - Reglas de procedimiento - Parte 5: Requisitos de gestión de procesos de sustancias peligrosas (IECQ HSPM)

DIN EN 61988-5:2010 Historia

• 2010 DIN EN 61988-5:2010-05 Paneles de visualización de plasma - Parte 5: Especificación genérica (IEC 61988-5:2009); Versión alemana EN 61988-5:2009
• 2010 DIN EN 61988-5:2010 Paneles de visualización de plasma - Parte 5: Especificación genérica (IEC 61988-5:2009); Versión alemana EN 61988-5:2009
• 0000 DIN IEC 61988-5:2006