JIS K 0162:2010
Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Estándar No.

JIS K 0162:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0162:2010

JIS K 0162:2010 Documento de referencia

• JIS K 0147 Análisis químico de superficies - Vocabulario

JIS K 0162:2010 Historia

• 2010 JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados