JIS K 0163:2010
Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones

Estándar No.

JIS K 0163:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0163:2010

JIS K 0163:2010 Documento de referencia

• JIS K 0147 Análisis químico de superficies - Vocabulario

JIS K 0163:2010 Historia

• 2010 JIS K 0163:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones