JB/T 9399-2010
Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X. (Versión en inglés)

Estándar No.

JB/T 9399-2010

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2010

Organización

Professional Standard - Machinery

Ultima versión

JB/T 9399-2010

Reemplazar

JB/T 9399-1999

Alcance

Esta norma especifica la serie de parámetros principales de los instrumentos de análisis de rayos X (difractómetro de rayos X completamente automático, analizador direccional de rayos X, analizador de cristales de rayos X, espectrómetro de fluorescencia de rayos X, etc.). Esta norma se aplica a los instrumentos de análisis de rayos X.

JB/T 9399-2010 Documento de referencia

• JB/T 7406.2-1994 Terminología de máquinas de prueba: instrumento de prueba no destructivo

JB/T 9399-2010 Historia

• 2010 JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
• 1999 JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.