JIS C 2162:2010
Método de prueba de confiabilidad a largo plazo del aislador de puerta para dispositivos de SiC a alta temperatura

Estándar No.

JIS C 2162:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS C 2162:2010

JIS C 2162:2010 Historia

• 2010 JIS C 2162:2010 Método de prueba de confiabilidad a largo plazo del aislador de puerta para dispositivos de SiC a alta temperatura