BS EN 61987-10:2009 Medición y control de procesos industriales - Estructuras de datos y elementos en catálogos de equipos de proceso - Listas de propiedades (LOP) para medición y control de procesos industriales para el intercambio electrónico de datos - Fundamentos normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 61987 proporciona un método para estandarizar las descripciones de dispositivos de control de procesos, instrumentación y equipos auxiliares, así como sus entornos operativos y requisitos operativos (por ejemplo, datos de especificación de puntos de medición). Los objetivos de esta norma son: 　•definir un lenguaje común para clientes y proveedores mediante la publicación de Listas de Propiedades (LOP), • optimizar los flujos de trabajo entre clientes y proveedores, así como en procesos como ingeniería, desarrollo y compras dentro de sus propios organizaciones, • reducir los costos de transacción. El estándar describe los tipos de dispositivos de procesos industriales y los dispositivos utilizando listas estructuradas de propiedades y hace que las propiedades asociadas estén disponibles en un diccionario de datos de componentes. La intención es producir un diccionario de referencia que permita una descripción de la consulta, oferta, descripciones internas de la empresa y otras descripciones de sistemas de control de procesos, instrumentación y equipos auxiliares basados en una lista de propiedades.

BS EN 61987-10:2009 Documento de referencia

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2010 BS EN 61987-10:2010 Medición y control de procesos industriales. Estructuras de datos y elementos en catálogos de equipos de proceso. Listas de propiedades (LOP) para medición y control de procesos industriales para el intercambio electrónico de datos. Fundamentos
2010 BS EN 61987-10:2009 Medición y control de procesos industriales - Estructuras de datos y elementos en catálogos de equipos de proceso - Listas de propiedades (LOP) para medición y control de procesos industriales para el intercambio electrónico de datos - Fundamentos