BS EN 61988-2-3:2009
Paneles de visualización de plasma - Métodos de medición - Calidad de imagen - Defectos y degradación

Estándar No.

BS EN 61988-2-3:2009

Fecha de publicación

2010

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 61988-2-3:2009

Reemplazar

06/30154593 DC-2006

Alcance

Esta parte de IEC 61988 determina los métodos de medición para defectos y degradación del módulo de pantalla de plasma en color (PDP) en las siguientes áreas: a) defectos de celda; b) imagen pegada; c) vida útil de la luminancia.

BS EN 61988-2-3:2009 Documento de referencia

• CIE 15-2004 Colorimetría (Tercera edición; ***Solo para clientes de suscripción (SDO) ***)
• IEC 61988-1 Paneles de visualización de plasma - Parte 1: Terminología y símbolos de letras*， 2011-07-01 Actualizar
• IEC 61988-2 Paneles de visualización de plasma - Parte 2-6: Métodos de medición - Características de color y gamma dependientes de APL*， 2015-03-01 Actualizar

BS EN 61988-2-3:2009 Historia

• 2010 BS EN 61988-2-3:2009 Paneles de visualización de plasma - Métodos de medición - Calidad de imagen - Defectos y degradación