SJ/T 11405-2009
Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11405-2009

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2009

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 11405-2009

Alcance

Esta norma especifica métodos de medición para dispositivos optoelectrónicos semiconductores utilizados en sistemas/subsistemas de fibra óptica.

SJ/T 11405-2009 Historia

• 2009 SJ/T 11405-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición