SJ/T 11403-2009 (Versión en inglés)

Alcance: Esta norma se aplica a la evaluación de confiabilidad de módulos de diodos láser para comunicaciones ópticas.

SJ/T 11403-2009 Documento de referencia

GB/T 15651-1995 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 5: Dispositivos optoelectrónicos
GB/T 17573-1998 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 1: Generalidades
GB/T 18904.2-2002 Dispositivos semiconductores-Parte 12-2: Dispositivos optoelectrónicos-Especificación detallada en blanco para módulos de diodos láser con pigtail para sistemas o subsistemas de fibra óptica
GB/T 2423.1-2008 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos.Parte 2:Métodos de prueba.Pruebas A:Frío
GB/T 2423.10-2008 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba Prueba Fc: Vibración (sinusoidal)
GB/T 2423.2-2008 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos.Parte 2:Métodos de prueba.Pruebas B:Calor seco
GB/T 2423.22-2002 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Métodos de prueba Prueba N: Cambio de temperatura
GB/T 2423.23-1995 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Prueba Q: Sellado
GB/T 2423.3-2006 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2: Método de prueba. Cabina de prueba: calor húmedo, estado estable.
GJB 128A-1997 Métodos de prueba de dispositivos semiconductores discretos
GJB 548A-1996 Métodos y procedimientos de prueba de dispositivos microelectrónicos.
GJB 915A-1997 Métodos de prueba de fibra óptica

2009 SJ/T 11403-2009 Módulos de diodos láser utilizados para telecomunicaciones. Evaluación de confiabilidad.