NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a alta temperatura.

Estándar No.

NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

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NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004 Historia

• 2004 NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a alta temperatura.