AS ISO 14606:2006 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad de sputtering - Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia
Adopta la norma ISO 14606:2000 para brindar orientación sobre la optimización de los parámetros de perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando materiales de referencia adecuados de una o varias capas para lograr una resolución de profundidad óptima en función de la configuración del instrumento.
AS ISO 14606:2006 Historia
1970AS ISO 14606:2006 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad de sputtering - Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia