STAS 6693/2-1975
Dispositivos semiconductores TRANSISTORES Métodos para medir propiedades eléctricas.

Estándar No.

STAS 6693/2-1975

Fecha de publicación

1975

Organización

RO-ASRO

Alcance

1.1. Esta norma establece los métodos para medir las características eléctricas de los transistores bipolares. 1.2. Los métodos de medición descritos en esta norma tienen principios; no son los únicos métodos para medir parámetros

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