Esta norma es una traducción de la versión en inglés de la norma internacional IEC Publicación 747-7 (1988) Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados Parte 7: Transistores bipolares. Traducción, debido al volumen. La norma internacional cubre sólo una parte de ella, es decir, el capítulo IV Métodos generales y arbitrales de medición (Publicación páginas 89 a 223 inclusive) y Capítulo V Pruebas de aceptación y confiabilidad (Páginas de la publicación 225 a 229 inclusive), con dibujos y tablas manteniendo la disposición y numeración del contenido coherente con el original. Los dibujos de la norma están numerados del 1 al 49, lo que corresponde a la numeración del 4 al 53 adoptada en el Cap. IV de la Publicación IEC 747-7 (1988) y enmienda No. 1 de mayo de 1991. Omitido en la publicación IEC Prefacio e Introducción. No ha habido cambios sustanciales ni adiciones al contenido de la norma. Los capítulos restantes de IEC 747-7 (1988) son cubierto por las normas polacas: Capítulo I y II - ¿Capítulo PN-92/T-01208/01? III - PN-92/T-01208/02 Prólogo, Información adicional y referencias constituyen suplemento nacional a la norma.