BS EN 60749-33:2004
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Resistencia a la humedad acelerada - Autoclave imparcial
- Estándar No.
- BS EN 60749-33:2004
- Fecha de publicación
- 2004
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 60749-33:2004
- Reemplazar
- 02/206197 DC-2002
- Alcance
- La prueba de autoclave imparcial se realiza para evaluar la integridad de la resistencia a la humedad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticos que utilizan entornos de condensación de humedad o vapor saturado de humedad. Es una prueba altamente acelerada que emplea condiciones de presión, humedad y temperatura en condiciones de condensación para acelerar la penetración de la humedad a través del material protector externo (encapsulante o sello) o a lo largo de la interfaz entre el material protector externo y los conductores metálicos que lo atraviesan. Esta prueba se utiliza para identificar mecanismos de falla internos del paquete y es destructiva.
BS EN 60749-33:2004 Historia
- 2004 BS EN 60749-33:2004 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Resistencia a la humedad acelerada - Autoclave imparcial
