BS EN 60749-24:2004
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Resistencia a la humedad acelerada - HAST imparcial
- Estándar No.
- BS EN 60749-24:2004
- Fecha de publicación
- 2004
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 60749-24:2004
- Reemplazar
- 02/207670 DC-2002
- Alcance
- La prueba de estrés imparcial altamente acelerada (HAST) se realiza con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticamente en ambientes húmedos. Es una prueba altamente acelerada que emplea temperatura y humedad en condiciones sin condensación para acelerar la penetración de la humedad a través del material protector externo (encapsulante o sello) o a lo largo de la interfaz entre el material protector externo y los conductores metálicos que lo atraviesan. En esta prueba no se aplica polarización para garantizar que se puedan descubrir los mecanismos de falla potencialmente eclipsados por la polarización (por ejemplo, corrosión galvánica). Esta prueba se utiliza para identificar mecanismos de falla internos del paquete y es destructiva. NOTA Esta prueba es una reescritura completa de la prueba contenida en la Cláusula 4C del Capítulo 3 de IEC 60749 (1996) (sin voltaje de polarización).
BS EN 60749-24:2004 Historia
- 2004 BS EN 60749-24:2004 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Resistencia a la humedad acelerada - HAST imparcial
