DIN 50452-2:2009
Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Método de ensayo para el análisis de partículas en líquidos. Parte 2: Determinación de partículas mediante contadores ópticos de partículas.
- Estándar No.
- DIN 50452-2:2009
- Fecha de publicación
- 2009
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN 50452-2:2009-10
- Ultima versión
- DIN 50452-2:2009-10
- Reemplazar
- DIN 50452-2:2008
DIN 50452-2:2009 Documento de referencia
- DIN EN ISO 14644-1 Salas blancas y ambientes controlados asociados - Parte 1: Clasificación de la limpieza del aire por concentración de partículas (ISO 14644-1:2015); Versión alemana EN ISO 14644-1:2015*， 2016-06-01 Actualizar
DIN 50452-2:2009 Historia
- 2009 DIN 50452-2:2009-10 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Método de ensayo para el análisis de partículas en líquidos. Parte 2: Determinación de partículas mediante contadores ópticos de partículas.
- 2009 DIN 50452-2:2009 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Método de ensayo para el análisis de partículas en líquidos. Parte 2: Determinación de partículas mediante contadores ópticos de partículas.
- 1991 DIN 50452-2:1991 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; método de prueba para análisis de partículas en líquidos; determinación de partículas con contadores ópticos de partículas
