IEC 61987-10:2009
Medición y control de procesos industriales - Estructuras de datos y elementos en catálogos de equipos de procesos - Parte 10: Listas de propiedades (LOP) para la medición y control de procesos industriales para el intercambio electrónico de datos - Fundamentos

Estándar No.
IEC 61987-10:2009
Fecha de publicación
2009
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Remplazado por
IEC 61987-10:2009/COR1:2012
Ultima versión
IEC 61987-10:2009/COR1:2012
Reemplazar
IEC 65E/134/FDIS:2009

IEC 61987-10:2009 Historia

  • 2012 IEC 61987-10:2009/COR1:2012 Medición y control de procesos industriales - Estructuras de datos y elementos en catálogos de equipos de procesos - Parte 10: Listas de propiedades (LOP) para la medición y control de procesos industriales para el intercambio electrónico de datos - Fundamentos
  • 2009 IEC 61987-10:2009 Medición y control de procesos industriales - Estructuras de datos y elementos en catálogos de equipos de procesos - Parte 10: Listas de propiedades (LOP) para la medición y control de procesos industriales para el intercambio electrónico de datos - Fundamentos



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