GB/T 23414-2009 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 23414-2009
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2009
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 23414-2009

Alcance: Esta norma define los términos utilizados en la práctica de la microscopía electrónica de barrido (SEM). Incluye términos generales y términos de conceptos específicos clasificados por tecnología, y también incluye términos ya definidos en la norma ISO 23833. Esta norma se aplica a todos los documentos estandarizados relacionados con la práctica SEM. Además, algunas definiciones de términos en esta norma también son aplicables a documentos en campos relacionados (por ejemplo: Microanálisis con sonda electrónica (EPMA), Microscopía electrónica analítica (AEM), Espectroscopía de energía (EDX), etc.].

GB/T 23414-2009 Historia

2009 GB/T 23414-2009 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario