JIS K 0150:2009 Análisis químico de superficies - Análisis de recubrimientos metálicos a base de zinc y/o aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa normas y especificaciones

Alcance: Esta norma especifica un método espectrométrico de emisión óptica de descarga luminiscente para la determinación del espesor, la masa por unidad de área y la composición química de revestimientos de superficies metálicas compuestos de materiales a base de zinc y/o aluminio. Los elementos de aleación considerados son níquel, hierro, silicio, plomo y antimonio. Este método es aplicable a contenidos de zinc entre 0,01 % en masa y 100 % en masa; contenidos de aluminio entre 0,01 % en masa y 100 % en masa; contenidos de níquel entre 0,01 % en masa y 20 % en masa; contenidos de hierro entre 0,01 % en masa y 20 % en masa; contenidos de silicio entre 0,01 % en masa y 10 % en masa; contenidos de plomo entre 0,005 % en masa y 2 % en masa; contenidos de antimonio entre 0,005 % en masa y 2 % en masa. NOTA: La Norma Internacional correspondiente a esta Norma es la siguiente. ISO 16962:2005 Análisis químico de superficies: análisis de recubrimientos metálicos a base de zinc y/o aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa (IDT). Además, se incluyen símbolos que indican el grado de correspondencia en el contenido entre la norma internacional pertinente y JIS son IDT/idéntico), MOD (modificado) y NEQ (no equivalente) según la Guía ISO/IEC 21.

JIS K 0150:2009 Documento de referencia

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