EN 62373:2006
Prueba de estabilidad de temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET)

Estándar No.

EN 62373:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Ultima versión

EN 62373:2006

EN 62373:2006 Historia

• 2006 EN 62373:2006 Prueba de estabilidad de temperatura de polarización para transistores de efecto de campo, semiconductores y de óxido metálico (MOSFET)