EN 60749-19:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel (incorpora el corrigendum de junio de 2003; incorpora la enmienda A1: 2010).

Estándar No.

EN 60749-19:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Ultima versión

EN 60749-19:2003

EN 60749-19:2003 Historia

• 2003 EN 60749-19:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel (incorpora el corrigendum de junio de 2003; incorpora la enmienda A1: 2010).