GB/T 16594-2008
Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 16594-2008

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2008

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 16594-2008

Reemplazar

GB/T 16594-1996

Alcance

Esta norma especifica los principios aplicables para la medición de longitudes en escala micrométrica mediante microscopía electrónica de barrido. Adecuado para medir (0,5 ~ 10) μm de longitud.

GB/T 16594-2008 Documento de referencia

• JJF 1001-1998 Términos generales en metrología y sus definiciones
• JJF 1059-1999 Evaluación y expresión de la incertidumbre en la medición.
• JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

GB/T 16594-2008 Historia

• 2008 GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
• 1996 GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM