BS DD CLC/TS 50466:2006
Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Especificación para su implementación

Estándar No.

BS DD CLC/TS 50466:2006

Fecha de publicación

2008

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2008-06

Remplazado por

BS DD CLC/TS 50466:2008

Ultima versión

BS DD CLC/TS 50466:2008

Alcance

Aunque en cierta medida siempre ha existido, la obsolescencia de los componentes electrónicos, y en particular de los circuitos integrados, se ha vuelto cada vez más intensa en los últimos años. De hecho, con el auge tecnológico existente, la vida comercial de un componente se ha vuelto muy corta en comparación con la vida de equipos industriales como los que se encuentran en el campo aeronáutico, la industria ferroviaria o el sector energético. Ya se han identificado las numerosas soluciones que permiten superar la obsolescencia. Sin embargo, la elección de una de estas soluciones debe ir precedida de un estudio de viabilidad técnico y económico caso por caso, dependiendo de si el almacenamiento está previsto para servicio en campo o para producción. Almacenamiento de recuperación tan pronto como los componentes dejen de comercializarse. Almacenamiento preventivo anticipando la declaración de obsolescencia. Teniendo en cuenta la vida útil prevista de algunas instalaciones, que a veces abarca varias décadas, los tiempos de cualificación y los costes de indisponibilidad, que también pueden ser muy elevados, la solución que se debe adoptar para resolver la obsolescencia debe muchas veces implementarse rápidamente. Por este motivo, la solución elegida en la mayoría de los casos consiste en almacenar sistemáticamente componentes que están en proceso de volverse obsoletos. Los riesgos técnicos de esta solución son, a priori, bastante bajos. Sin embargo, requiere un dominio perfecto del proceso implementado, y especialmente del entorno de almacenamiento, aunque este dominio se vuelve crítico cuando se trata de almacenamiento a largo plazo. Todas las operaciones de manipulación, protección, almacenamiento y prueba deben realizarse de acuerdo con los requisitos tecnológicos del componente.

BS DD CLC/TS 50466:2006 Documento de referencia

• EN 190000:1995 Circuitos integrados monolíticos de especificación genérica
• EN 60068-2-17:1994 Pruebas ambientales Parte 2: Pruebas Prueba Q: Sellado
• HD 323.2.20 S3-1988 Procedimientos básicos de pruebas ambientales: Parte 2: Pruebas Prueba T: Soldadura

BS DD CLC/TS 50466:2006 Historia

• 2008 BS DD CLC/TS 50466:2008 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos. Especificación para la implementación
• 2008 BS DD CLC/TS 50466:2006 Almacenamiento de larga duración de componentes electrónicos - Especificación para su implementación