GB/T 5170.10-2008
Métodos de inspección para equipos de prueba ambiental para productos eléctricos y electrónicos. Equipos de prueba combinados de alta y baja temperatura/baja presión de aire. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 5170.10-2008

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2008

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Estado

 2018-07

Remplazado por

GB/T 5170.10-2017

Ultima versión

GB/T 5170.10-2017

Reemplazar

GB/T 5170.10-1996

Alcance

Esta parte de GB/T 5170 especifica los elementos de inspección, instrumentos principales y requisitos para la inspección, carga de inspección, condiciones de inspección, métodos de inspección y procesamiento de datos de alta y baja temperatura y baja presión (incluyendo baja presión, baja temperatura y baja presión y alta temperatura y baja presión) equipo de prueba Resultados y resultados de inspección, ciclo de inspección, etc. Esta parte se aplica a GB/T 2423.21 "Procedimientos básicos de prueba ambiental para productos eléctricos y electrónicos Prueba M: Método de prueba de baja presión de aire", GB/T 2423.25 " Procedimientos de prueba ambiental básica para productos eléctricos y electrónicos Prueba Z/AM: Método de prueba integral de baja temperatura/baja presión de aire " y GB/T 2423.26 "Regulaciones de prueba ambiental básica para productos eléctricos y electrónicos Prueba Z/BM: Alta temperatura/baja presión integral Método de prueba" para la primera inspección/inspección de aceptación y la inspección periódica del equipo de prueba utilizado. Esta sección también se aplica a la inspección de equipos de prueba similares.

GB/T 5170.10-2008 Documento de referencia

• GB/T 16839.1 Termopares: Parte 1: especificaciones y tolerancias de EMF*， 2018-07-13 Actualizar
• GB/T 2423.21 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2 Métodos de prueba Prueba M: Baja presión de aire*， 2008-12-30 Actualizar
• GB/T 2423.25 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos.Parte 2: Tsets Tset Z/AM: Pruebas combinadas de presión de aire frío/baja.*， 2008-12-30 Actualizar
• GB/T 2423.26 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Parte 2 Métodos de prueba TestZ/BM: Pruebas combinadas de calor seco/baja presión de aire*， 2008-12-30 Actualizar
• GB/T 5170.1-2008 Métodos de inspección para equipos de pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. General
• GB/T 5170.2 Métodos de prueba para equipos de prueba ambientales Parte 2: Equipos de prueba de temperatura*， 2018-07-01 Actualizar
• IEC 60751 Termómetros de resistencia industriales de platino y sensores de temperatura de platino*， 2022-01-27 Actualizar

GB/T 5170.10-2008 Historia

• 2017 GB/T 5170.10-2017 Métodos de inspección para equipos de prueba ambiental. Parte 10: Equipos de prueba combinados de alta y baja temperatura/baja presión de aire.
• 2008 GB/T 5170.10-2008 Métodos de inspección para equipos de prueba ambiental para productos eléctricos y electrónicos. Equipos de prueba combinados de alta y baja temperatura/baja presión de aire.
• 1996 GB/T 5170.10-1996 Métodos de inspección de parámetros básicos de equipos de pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos. Equipos de prueba combinados de alta y baja temperatura/baja presión de aire

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