IEC 62431:2008 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica - Métodos de medición normas y especificaciones

Alcance: Esta norma internacional especifica los métodos de medición de la reflectividad de los absorbentes de ondas electromagnéticas (EMA) para la incidente normal, la incidente oblicua y cada onda polarizada en el rango de ondas milimétricas. Además, estos métodos también son igualmente eficaces para la medición de la reflectividad de otros materiales: 　——rango de frecuencia de medición: 30 GHz a 300 GHz; 　——reflectividad: 0 dB a-50 dB; 　——ángulo de incidencia: 0~ a 80~. NOTA Esta norma es aplicable no sólo a aquellos EMA que se utilizan ampliamente como contramedidas contra fallos de comunicación, interferencias de radio, etc., sino también a los utilizados en una cámara anecoica en algunos casos. Los EMA pueden ser cualquier tipo de material y pueden tener cualquier forma, configuración o estructura en capas arbitraria, como se indica a continuación. Material: Material conductor, material dieléctrico, material magnético. Forma: plana, piramidal, tipo cuña u otras formas específicas. Estructura de capas: una sola capa, varias capas o material de índice graduado.

IEC 62431:2008 Documento de referencia

ISO/IEC 17025 Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración.*， 2017-11-29 Actualizar

2008 IEC 62431:2008 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica - Métodos de medición