1.1 Esta guía cubre el uso de pruebas excesivas para reducir la cantidad requerida de piezas que deben probarse para cumplir con un estándar de aceptación de calidad determinado. La sobreprueba consiste en probar una cantidad de muestra de piezas con una tensión superior a la tensión de especificación para reducir la cantidad de datos necesarios. Esta guía analiza cuándo y cómo se pueden aplicar las pruebas excesivas para formar estimaciones probabilísticas para la supervivencia de piezas electrónicas sometidas a estrés por radiación. Es necesario cierto conocimiento de la distribución de probabilidad que gobierna la tensión hasta la falla de las piezas, aunque el conocimiento exacto puede ser reemplazado por estimaciones excesivamente conservadoras de esta distribución.
ASTM F1263-99 Historia
2019ASTM F1263-11(2019) Guía estándar para el análisis de datos de sobreprueba en pruebas de radiación de piezas electrónicas
2011ASTM F1263-11 Guía estándar para el análisis de datos de sobreprueba en pruebas de radiación de piezas electrónicas
1999ASTM F1263-99(2005) Guía estándar para el análisis de datos de sobreprueba en pruebas de radiación de piezas electrónicas
1999ASTM F1263-99 Guía estándar para el análisis de datos de sobreprueba en pruebas de radiación de piezas electrónicas