ASTM E2088-00
Práctica estándar para seleccionar, preparar, exponer y analizar superficies testigo para medir la deposición de partículas en salas blancas y entornos controlados asociados

Estándar No.
ASTM E2088-00
Fecha de publicación
2000
Organización
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Estado
Remplazado por
ASTM E2088-06
Ultima versión
ASTM E2088-06(2021)
Alcance
1.1 Esta práctica tiene como objetivo ayudar en la selección, preparación, exposición y análisis de superficies testigo con el fin de caracterizar las tasas de deposición de partículas en salas limpias y ambientes controlados asociados, particularmente para aplicaciones aeroespaciales. 1.2 Los requisitos pueden definirse en términos de tamaño de partícula distribución y recuento, porcentaje de cobertura de área o criterios de rendimiento del producto, como transmisión óptica o dispersión. Se proporcionan varias opciones para las superficies testigo. Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse como la norma.

ASTM E2088-00 Historia

  • 2021 ASTM E2088-06(2021) Práctica estándar para seleccionar, preparar, exponer y analizar superficies testigo para medir la deposición de partículas en salas blancas y entornos controlados asociados
  • 2006 ASTM E2088-06(2015)
  • 2006 ASTM E2088-06(2011) Práctica estándar para seleccionar, preparar, exponer y analizar superficies testigo para medir la deposición de partículas en salas blancas y entornos controlados asociados
  • 2006 ASTM E2088-06 Práctica estándar para seleccionar, preparar, exponer y analizar superficies testigo para medir la deposición de partículas en salas blancas y entornos controlados asociados
  • 2000 ASTM E2088-00 Práctica estándar para seleccionar, preparar, exponer y analizar superficies testigo para medir la deposición de partículas en salas blancas y entornos controlados asociados



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