ASTM F533-96
Método de prueba estándar para el espesor y la variación del espesor de obleas de silicio

Estándar No.
ASTM F533-96
Fecha de publicación
1996
Organización
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Estado
Remplazado por
ASTM F533-02
Ultima versión
ASTM F533-02a
Alcance
1.1 Este método de prueba cubre la medición del espesor de las obleas de silicio, pulidas o sin pulir, y la estimación de la variación del espesor a lo largo de la oblea. 1.2 Este método de prueba está destinado principalmente para su uso con obleas que cumplan con los requisitos de dimensión y tolerancia de las Especificaciones SEMI M1. Sin embargo, se puede aplicar a obleas circulares de silicio o sustratos de cualquier diámetro y espesor que puedan manipularse sin romperse. 1.3 Este método de prueba es adecuado para equipos de medición con y sin contacto. Se han establecido declaraciones de precisión para cada uno. 1.4 Los valores indicados en unidades pulgada-libra deben considerarse estándar. Los valores entre paréntesis son sólo para información. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM F533-96 Historia

  • 1970 ASTM F533-02a
  • 2002 ASTM F533-02 Método de prueba estándar para el espesor y la variación del espesor de obleas de silicio
  • 1996 ASTM F533-96 Método de prueba estándar para el espesor y la variación del espesor de obleas de silicio



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