ASTM E1791-96(2000) Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica
La mayoría de los reflectómetros y espectrofotómetros comerciales con capacidad de reflectancia miden la reflectancia relativa. La lectura del instrumento es la relación entre la radiación medida reflejada por la muestra de referencia y la radiación medida reflejada por la muestra de prueba. Esa relación depende de parámetros específicos del instrumento. Los laboratorios nacionales de normalización y algunos laboratorios de investigación miden la reflectancia en instrumentos calibrados a partir de principios básicos, estableciendo así una escala de reflectancia absoluta como se describe en la Publicación CIE No. 44 (5). Estas mediciones son lo suficientemente difíciles y de costo prohibitivo como para que generalmente se dejen en manos de laboratorios especializados en ellas. Se podría utilizar un estándar que haya sido medido en una escala absoluta para transferir esa escala a un reflectómetro. Si bien existen tales procedimientos, las limitaciones impuestas a las propiedades mecánicas restringen la idoneidad de algunas de las propiedades ópticas, especialmente aquellas propiedades relacionadas con la distribución geométrica de la radiación reflejada. Por lo tanto, los estándares de factor de reflectancia que son lo suficientemente resistentes o fáciles de limpiar para usarse como estándares de transferencia permanente, con la excepción de los estándares de PTFE sinterizado, se alejan considerablemente del difusor perfecto en la distribución geométrica de la radiación reflejada. La distribución geométrica de la radiancia reflejada de dichos estándares es lo suficientemente difusa como para que dicho estándar pueda proporcionar una calibración confiable de un reflectómetro direccional-hemisférico o de ciertos reflectómetros direccionales-direccionales. Aunque los estándares de polvo prensado están sujetos a contaminación y rotura, el factor de reflectancia del polvo prensado puede ser suficientemente reproducible de una muestra a otra de un lote determinado de polvo para permitir la asignación de valores absolutos del factor de reflectancia a todo el polvo de un lote. Los materiales de PTFE sinterizado exhiben suficiente reproducibilidad dentro de la misma muestra después de repavimentar o limpiar la muestra para permitir la asignación de valores absolutos del factor de reflectancia. La preparación de estándares de reflectancia de polvo empaquetado está cubierta en la Práctica E 259. Esta práctica describe las propiedades físicas y espectrales de estos materiales y de los materiales de PTFE sinterizados. 1.1 Esta práctica cubre procedimientos para la preparación y el uso de estándares de transferencia aceptables para espectrofotómetros NIR. Los procedimientos para calibrar el factor de reflectancia de los materiales en forma absoluta están contenidos en la Publicación CIE No. 44 (9). Tanto las muestras de polvo prensado como los materiales de PTFE sinterizado se utilizan como estándares de transferencia para tales calibraciones porque tienen factores de reflectancia muy estables que son casi constantes con la longitud de onda y porque la distribución del flujo se parece mucho a la del difusor reflectante perfecto. 1.2 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse como estándar. Los valores entre paréntesis son sólo para información. 1.3 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E1791-96(2000) Historia
2021ASTM E1791-96(2021) Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica
1996ASTM E1791-96(2014) Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica
1996ASTM E1791-96(2008)e1 Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica
1996ASTM E1791-96(2000) Práctica estándar para estándares de transferencia para el factor de reflectancia para instrumentos de infrarrojo cercano que utilizan geometría hemisférica