GB/T 21548-2008 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 21548-2008
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2008
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Estado: 2021-08
Remplazado por: GB/T 21548-2021
Ultima versión: GB/T 21548-2021

Alcance: Esta norma especifica los términos, definiciones, clasificaciones y el principal método de medición de los parámetros técnicos. Además, considerando la integridad de los métodos de medición láser y los métodos de prueba e inspección relacionados, como apéndice, también se especifican los métodos de medición de varios parámetros de láser comúnmente utilizados, los métodos de prueba de confiabilidad y los métodos (o reglas) de inspección de productos. Esta norma se aplica a la medición de las características fotoeléctricas de láseres semiconductores de modulación de intensidad directa y sus componentes utilizados en SDH, WDM, Ethernet y otros sistemas de comunicación de fibra óptica para ajustar códigos de pulso; También es aplicable la medición o detección de características fotoeléctricas de láseres y sus componentes en sistemas de comunicación y otros sistemas ópticos. Se puede utilizar como referencia.

GB/T 21548-2008 Documento de referencia

GB/T 17626.2-1998 Compatibilidad electromagnética--Técnicas de prueba y medición--Prueba de inmunidad a descargas electrostáticas
GB/T 17626.3-1998 Compatibilidad electromagnética--Técnicas de ensayo y medida--Ensayo de inmunidad a campos electromagnéticos, radiofrecuencia y radiados
GB/T 17626.4-2008 Compatibilidad electromagnética. Técnicas de prueba y medición. Prueba de inmunidad a transitorios rápidos/ráfagas eléctricas.*， 2008-05-20 Actualizar
GB/T 17626.6-2008 Compatibilidad electromagnética. Técnicas de ensayo y medición. Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia.*， 2008-05-20 Actualizar
IEC 62007-2 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.*， 2009-01-26 Actualizar
ITU-T G.691-2006 Interfaces ópticas para STM-64 de un solo canal y otros sistemas SDH con amplificadores ópticos
YD/T 1111.2-2001 Requisitos técnicos de los módulos transmisores ópticos/receptores ópticos SDH. Módulos transmisores ópticos de 2,488320 Gb/s
YD/T 701-1993 Método de prueba para el ensamblaje de diodos láser semiconductores.
YD/T 767-1995 Requisitos técnicos de interfaz óptica para equipos y sistemas seriales digitales síncronos

2021 GB/T 21548-2021 Métodos de medición de láseres semiconductores de alta velocidad modulados directamente para sistemas de comunicación por fibra óptica.
2008 GB/T 21548-2008 Métodos de medición de láseres semiconductores de alta velocidad modulados directamente para sistemas de comunicación por fibra óptica.