- Estándar No.
- GB/T 3482-2008
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2008
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Ultima versión
-
GB/T 3482-2008
- Reemplazar
-
GB/T 3482-1983
GB/T 7450-1987
GB/T 3483-1983
- Alcance
- Esta norma especifica las condiciones de prueba, los circuitos de prueba y los procedimientos de prueba para la prueba simulada de impacto de rayo de equipos electrónicos con voltaje de trabajo inferior a 1000 V (CA) o 1500 V (CC). Esta norma se aplica a las pruebas simuladas de impacto de rayos para equipos electrónicos.
GB/T 3482-2008 Documento de referencia
- GB/T 17626.5-1999 Compatibilidad electromagnética--Técnicas de prueba y medición--Prueba de inmunidad a sobretensiones
- GB/T 17626.9-1998 Compatibilidad electromagnética--Técnicas de ensayo y medida--Prueba de inmunidad al campo magnético de impulsos
- GB/T 17627.1-1998 Técnicas de prueba de alta tensión para equipos de baja tensión. Parte 1: Definiciones, requisitos de prueba y procedimiento.
GB/T 3482-2008 Historia
GB/T 3482-2008 Método de prueba de rayos para equipos electrónicos. ha sido cambiado a GB/T 7450-1987 Guía para la protección contra rayos de equipos electrónicos..
GB/T 3482-2008 Método de prueba de rayos para equipos electrónicos. ha sido cambiado a GB/T 3483-1983 Guía de prueba de rayos para equipos electrónicos..