Esta norma industrial japonesa especifica reglas generales para la medición de rayos X fluorescentes generados a partir de una muestra utilizando un instrumento de análisis espectrométrico de rayos X fluorescentes y para realizar el análisis cualitativo y cuantitativo de los elementos contenidos en una muestra. - ción y análisis cartográfico.
JIS K 0119:2008 Documento de referencia
JIS K 0211 Términos técnicos de química analítica (Parte general)*, 2013-03-21 Actualizar
JIS K 0212 Términos técnicos de química analítica (parte óptica)*, 2016-12-20 Actualizar
JIS K 0215 Términos técnicos de química analítica (parte del instrumento analítico)*, 2016-03-22 Actualizar
JIS Q 0030 Materiales de referencia: términos y definiciones seleccionados*, 2019-01-21 Actualizar
JIS K 0119:2008 Historia
2008JIS K 0119:2008 Reglas generales para el análisis de fluorescencia de rayos X.
1997JIS K 0119:1997 Reglas generales para el análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X.