JIS C 3660-1-4:2003
Métodos de prueba comunes para materiales aislantes y de revestimiento de cables eléctricos y ópticos. Parte 1-4: Métodos para aplicaciones generales. Pruebas a baja temperatura.

Estándar No.

JIS C 3660-1-4:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS C 3660-1-4:2003

Reemplazar

JIS C 3660-1-4:1998

Alcance

Esta norma especifica métodos de prueba para materiales aislantes y de revestimiento, como cables eléctricos y ópticos para distribución de energía, telecomunicaciones y equipos marinos. Esta norma especifica pruebas a baja temperatura de compuestos de vinilo y polietileno para aplicaciones generales de aislamiento y revestimiento. Nota: Los estándares internacionales correspondientes a esta norma se muestran a continuación. Los símbolos que representan el grado de correspondencia son IDT (coincidente), MOD (modificado) y NEQ (no equivalente) según la Guía ISO/IEC 21.

JIS C 3660-1-4:2003 Historia

• 2003 JIS C 3660-1-4:2003 Métodos de prueba comunes para materiales aislantes y de revestimiento de cables eléctricos y ópticos. Parte 1-4: Métodos para aplicaciones generales. Pruebas a baja temperatura.
• 1998 JIS C 3660-1-4:1998 Métodos de prueba comunes para materiales aislantes y de revestimiento de cables eléctricos. Parte 1: Métodos de aplicación general. Sección 4: Ensayo a baja temperatura.