TS 2553-1977 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición Parte 3: Métodos de medición de referencia
1977TS 2553-1977 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición Parte 3: Métodos de medición de referencia