Esta “NORMA” proporciona una descripción general de los procedimientos para medir el espesor de recubrimientos en metales y no metales. Incluye únicamente los métodos de medición del espesor de capa estandarizados en la tecnología de superficies. No se tienen en cuenta los procedimientos de medición que están destinados a problemas de medición específicos o que no se utilizan generalmente. También se describen los conceptos básicos que son importantes y que deben tenerse en cuenta a la hora de medir el espesor de capa o determinar la masa por superficie. Las siguientes especificaciones pretenden servir como una descripción general para seleccionar los métodos de medición adecuados. Los procedimientos se analizan con más detalle en las normas especiales. Los métodos para medir el espesor de la capa pueden ser destructivos o no destructivos. La información de las Tablas 1 y 2 le ayudará a seleccionar el método más adecuado para cada proyecto individual. Los rangos de espesor están cubiertos por los diferentes procesos, dependiendo de los materiales de revestimiento, materiales base y dispositivos utilizados. La medición del espesor de capas de películas delgadas y de capas de tecnología de semiconductores no es objeto de esta NORMA. Continúa páginas 2 a 17 Según esta ?NORMA, el marcado estándar está de acuerdo con?? § 3 Ley de Normas de 1971 inadmisible. Los pasajes de texto en cursiva, con excepción de los símbolos de fórmulas, no son texto estándar. Las citas de normas sin fecha de publicación se refieren a la versión actualmente válida. Según el reglamento interno de la ON, las interpretaciones y explicaciones de las "NORMAS" sólo son auténticas si son emitidas por la ON con base en una resolución de la FNA responsable.
ONORM C 2525-1989 Historia
1989ONORM C 2525-1989 Medición del espesor del recubrimiento estudio de métodos.