NP 3081-1985
COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base

Estándar No.

NP 3081-1985

Fecha de publicación

1985

Organización

PT-IPQ

Ultima versión

NP 3081-1985

NP 3081-1985 Historia

• 1985 NP 3081-1985 COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base