DIN EN 60749-18:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiaciones ionizantes (dosis total) (IEC 60749-18:2002); Versión alemana EN 60749-18:2003
- Estándar No.
- DIN EN 60749-18:2003
- Fecha de publicación
- 2003
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN EN 60749-18 E:2018-10
- Ultima versión
- DIN EN 60749-18 E:2018-10
- Reemplazar
- DIN EN 60749-18:2002
- Alcance
- El procedimiento de prueba descrito en esta norma define los requisitos para probar circuitos integrados semiconductores empaquetados y dispositivos semiconductores discretos para detectar los efectos de la radiación ionizante (dosis total) de una fuente de rayos gamma de cobalto-60. Además, este procedimiento proporciona una prueba de recocido acelerado para estimar los efectos de las radiaciones ionizantes de baja tasa de dosis en los dispositivos.
DIN EN 60749-18:2003 Historia
- 1970 DIN EN 60749-18 E:2018-10
- 2003 DIN EN 60749-18:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiaciones ionizantes (dosis total) (IEC 60749-18:2002); Versión alemana EN 60749-18:2003
- 0000 DIN EN 60749-18:2002
