BS EN 60749-16:2003
Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

Estándar No.

BS EN 60749-16:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 60749-16:2003

Reemplazar

00/203281 DC-2000 BS EN 60749:1999

Alcance

El propósito de esta parte de IEC 60749 es detectar la presencia de partículas sueltas dentro de un dispositivo de cavidad como, por ejemplo, virutas de cerámica, trozos de alambre de unión o bolas de soldadura (prills). La prueba de detección de ruido de impacto de partículas se clasifica como no destructiva.

BS EN 60749-16:2003 Historia

• 2003 BS EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)