KS C 2607-1980
MÉTODOS DE PRUEBA DE SEMICONDUCTOR

Estándar No.

KS C 2607-1980

Fecha de publicación

1980

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C 2607-1974(2000)

Ultima versión

KS C 2607-1974(2000)

KS C 2607-1980 Historia

• 0000 KS C 2607-1974(2000)
• 1980 KS C 2607-1980 MÉTODOS DE PRUEBA DE SEMICONDUCTOR