GB/T 11685-2003
Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 11685-2003

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2003

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 11685-2003

Reemplazar

GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989

Alcance

Esta norma especifica los métodos de medición de las principales características de los sistemas detectores de rayos X de semiconductores y de los espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores. Esta norma se aplica a la medición del rendimiento principal de los sistemas detectores de rayos X de semiconductores y los espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

GB/T 11685-2003 Historia

• 2003 GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
• 0000 GB/T 11685-1989
• 0000 GB/T 8992-1988