KS C 6046-1986
MÉTODOS DE PRUEBAS AMBIENTALES Y MÉTODOS DE PRUEBAS DE RESISTENCIA PARA DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES DISCRETOS
Inicio
KS C 6046-1986
Estándar No.
KS C 6046-1986
Fecha de publicación
1986
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C 6046-1978(2001)
Ultima versión
KS C 6046-1978(2001)
KS C 6046-1986 Historia
0000
KS C 6046-1978(2001)
1986
KS C 6046-1986
MÉTODOS DE PRUEBAS AMBIENTALES Y MÉTODOS DE PRUEBAS DE RESISTENCIA PARA DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES DISCRETOS
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