Esta norma presenta procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores. Dichos sistemas constan de un conjunto detector de radiación semiconductor y una electrónica de procesamiento de señales interconectada a un analizador/computadora de altura de pulso. Esta norma no cubre los procedimientos de prueba para analizadores de altura de pulso y computadoras. La cláusula 5 es esencialmente tutorial.
IS 12737-1988 Historia
1990IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR