IS 4400 Pt.1-1967
MÉTODOS DE MEDICIONES EN DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES PARTE Ⅰ GENERAL

Estándar No.

IS 4400 Pt.1-1967

Fecha de publicación

1968

Organización

IN-BIS

Ultima versión

IS 4400 Pt.1-1967

Alcance

Esta norma (Parte I) cubre las condiciones generales relacionadas con las mediciones en todo tipo de dispositivos semiconductores.

IS 4400 Pt.1-1967 Historia

• 1968 IS 4400 Pt.1-1967 MÉTODOS DE MEDICIONES EN DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES PARTE Ⅰ GENERAL