Esta norma describe los procedimientos de medición de las características de corriente-voltaje de dispositivos fotovoltaicos de silicio cristalino bajo luz solar natural o simulada. Estos procedimientos son aplicables a una única célula solar, a un subconjunto de células solares o a un módulo plano. Notas J. — El término "muestra" se utiliza para designar cualquiera de estos dispositivos. 2. — Estos procedimientos se limitan a dispositivos lineales.
IS 12762 Pt.1-1989 Historia
1990IS 12762 Pt.1-1989 ESPECIFICACIÓN PARA DISPOSITIVOS FOTOVOLTAICOS PARTE 1 MEDICIÓN DE LAS CARACTERÍSTICAS CORRIENTE-TENSIÓN FOTOVOLTAICA