Esta norma trata del procedimiento de prueba de vida para dispositivos semiconductores aplicable para los siguientes propósitos: a) Aprobación de tipo o prueba de tipo, b) Prueba de aceptación, y c) Evaluación de confiabilidad.
IS 7412-1974 Historia
1975IS 7412-1974 PRUEBAS DE VIDA DE DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES