CSN 35 8754-1973
Dispositivos semiconductores. Transistores. Medición de la admitancia de salida de cortocircuito.

Estándar No.

CSN 35 8754-1973

Fecha de publicación

1973

Organización

CZ-CSN

Estado

Ultima versión

CSN 35 8754-1973

Alcance

Procesador: Tesla Ro?nov, empresa nacional, Ro?nov pod Radho?těm, responsable? trabajador - Ing. Václav Sehnalík Trabajador del equipo de normalización y medición: Ing. Viktor Kotrubenko

CSN 35 8754-1973 Historia

• 1973 CSN 35 8754-1973 Dispositivos semiconductores. Transistores. Medición de la admitancia de salida de cortocircuito.