CSN 35 8757 Cast.12-1989

Estándar No.
CSN 35 8757 Cast.12-1989
Fecha de publicación
1989
Organización
CZ-CSN
Estado
Ultima versión
CSN 35 8757 Cast.12-1989
Alcance
La aprobación de ST SEV 6038-87 fue recomendada por el Ministerio Federal de Industria Electrotécnica, I?O 119. Centro de estandarización de procesadores y sucursales: TESLA Ro?nov, concernov? empresa, I?O 009 750 - Ing. Dagmar Balá?ová. Trabajadora de la Oficina Federal de Normalización y medidora Helena Musilová

CSN 35 8757 Cast.12-1989 Historia

CSN 35 8757 Cast.12-1989 - Все части

CSN 35 8757 Cast.1-1985 CSN 35 8757 Cast.10-1986 Transistores. Métodos para medir la capacidad de salida en conexión de base común CSN 35 8757 Cast.11-1986 Transistores. Método para medir los tiempos de conmutación. CSN 35 8757 Cast.2-1985 Transistores. Método de medición de la relación de transferencia de corriente directa de cortocircuito de señal pequeña de emisor común CSN 35 8757 Cast.3-1984 transistor. Método de medición de la cifra de ruido. CSN 35 8757 Cast.4-1985 Transistores. Métodos para medir la corriente de corte del colector, la corriente de corte del emisor y la corriente de corte del colector-emisor CSN 35 8757 Cast.5-1985 Transistores. Método de medición de la capacitancia de la capa barrera del colector y del emisor. CSN 35 8757 Cast.6-1985 Método de medición del valor estático de la relación de transferencia directa de emisor común CSN 35 8757 Cast.7-1985 Transistores. Método de medición del valor absoluto de la relación de transferencia de corriente directa y la frecuencia de transición CSN 35 8757 Cast.8-1985 Transistores. Métodos de medición de la tensión base-emisor. CSN 35 8757 Cast.9-1986 Transistores. Métodos para medir la resistencia térmica.


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