CSN 35 8745-1973
Dispositivos semiconductores. transistor. Medición de la relación de transferencia de voltaje inverso en circuito abierto y el coeficiente pequeño a altas frecuencias.

Estándar No.

CSN 35 8745-1973

Fecha de publicación

1973

Organización

CZ-CSN

Estado

Remplazado por

CSN 35 8745-1984

Ultima versión

CSN 35 8745-1984

Alcance

Procesador: Tesla Ro?nov, nació la empresa, Ro?nov pod Radho?těm, responsable? trabajador—Ing. Václav Sehnalík. Empleado del equipo de estandarización y medición: Ing. Víktor Kotrubenko'

CSN 35 8745-1973 Historia

• 1984 CSN 35 8745-1984 Transistores. Método de medición de la constante de tiempo del circuito de retroalimentación.
• 1973 CSN 35 8745-1973 Dispositivos semiconductores. transistor. Medición de la relación de transferencia de voltaje inverso en circuito abierto y el coeficiente pequeño a altas frecuencias.